Geographic Information Systems - GIS

קווי המתאר של המבנים מתצלום לוויין

פגישות אישיות

ניתן לנצל את ביקורם של המומחים מחברת Ecopia Tech
לקביעת פגישה אישית בתיאום מראש דרכנו.

נשמח לעמוד לרשותכם במידע נוסף וקביעת פגישה אישית.

יוסי לרנר, סיסטמטיקס טכנולוגיות
טלפון: 03-7660113
נייד: 054-4878141

אנו שמחים להזמינכם לסמינר בנושא :

קליטה אוטומטית של מבנים ופרטים וזיהוי שינויים מתצלומי לווין ואוויר

6.2.2018, בין השעות 8:30-12:00, מלון Crown Plaza מגדלי עזריאלי, תל אביב

חברת Ecopia Tech, המיוצגת ע"י סיסטמטיקס, הינה מובילה עולמית בקליטה אוטומטית של קווי מתאר (foot print) של מבנים ועצמים נוספים (קווי רחוב, עמודי תשתית) מתצלומי לווין ותצלומי אוויר.

החברה מתמחה גם באיתור שינויים (Change detection) של שכבות מידע שונות מתוך החומר הצילומי והשלימה לאחרונה פרוייקט שאפתני במיוחד של קליטת כל המבנים ביבשת אוסטרליה, למעלה מ- 15 מליון מבנים, בתוך מספר חודשים ב- 95% הצלחה, ומתחילה כעת פרוייקט דומה לקליטת כל המבנים בצפון אמריקה !!!

לחברת Ecopia Tech הסכם שיתוף פעולה עם חברת DigitalGlobe (חברת הלווינים הגדולה בעולם), ובמסגרתו עומד לרשותה כל מאגר הצילומים של DigitalGlobe, כלומר הלקוח לא חייב לספק את חמרי הגלם הצילומיים.

ניתן לראות מידע נוסף על טכנולוגיה זו באתר החברה.

במסגרת סמינר זה תוצג ותודגם הטכנולוגיה לקליטה האוטומטית ולאיתור השינויים, באמצעות תצלומי לווין וגם באמצעות אורתופוטו.

הסמינר יועבר על ידי שני מנהלים בכירים מחברת Ecopia Tech:

Dr. Yuanming Shu – PhD Geomatics – CEO/Co-founder
Bill Singleton – Vice President Sales

מועד ומיקום הכנס:

icon-contact-17

צור קשר

סיסטמטיקס טכנולוגיות ר.ג. בע"מ
טלפון: 03-7660111
gis-button-phonegis-button-quote1gis-button-contact1

6.2.2018, בין השעות 8:30-12:00, מלון Crown Plaza מגדלי עזריאלי, תל אביב

עקב מגבלות האולם נוכל לאשר השתתפות של עד 2 משתתפים מכל ארגון.

הסמינר אינו כרוך בתשלום אך מחייב הרשמה מראש, ויועבר בשפה האנגלית.